高精度膜厚儀的選擇以及測量原理介紹

林上科技的高精度膜厚儀https://www.linshangtech.cn/tech/tech1718.html是熟行業(yè)界做的一個(gè)不錯(cuò)的*牌。他們家的高精度膜厚儀產(chǎn)品品種比較多在購買時(shí)應(yīng)該怎樣挑選呢？以下我們做一個(gè)簡略的介紹。
林上公司研討并且開發(fā)的高精度膜厚儀具有LS220H、LS221、LS223配F3N3探頭、LS223配F5N3探頭四種類型，單純丈量塑料薄膜可以挑選量程0-2000微米的，只需要簡略調(diào)零，不用過火繁瑣的操作。丈量精度也可以準(zhǔn)確的控制在≤±(3%讀數(shù)+2μm)。關(guān)于一些比較特別的塑料薄膜資料，可以挑選量程為0μm-3000μm：≤±(3%讀數(shù)+2μm)、3000μm-5000μm：≤±(5%讀數(shù)+2μm)的，這種膜厚儀測出的數(shù)據(jù)十分精準(zhǔn)，可以抵達(dá)**計(jì)量院的檢測規(guī)范。
林上高精度膜厚儀產(chǎn)品參數(shù)介紹：
測頭 紅寶石固定式
丈量原理 Fe:霍爾效應(yīng)/NFe:電渦流效應(yīng)
探頭類型 內(nèi)置一體式
丈量規(guī)劃 0.0 - 2000μm
分辨率 0.1μm：(0μm-99.9μm)
1μm：(100μm-999μm)
0.01mm：(1.00mm-2.00mm)
單位 μm / mil
丈量精度 ≤±(3%讀數(shù)+2μm)
丈量距離 0.5S
林上高精度膜厚儀丈量原理介紹：渦流法電鍍膜厚儀是通過檢測測頭接觸到被測金屬導(dǎo)電基體后產(chǎn)生的渦流振幅和相位巨細(xì)來招認(rèn)覆蓋層厚度的。*要應(yīng)用于檢測非磁性金屬團(tuán)體上的非導(dǎo)電覆蓋層厚度丈量。磁性法膜厚儀是根據(jù)丈量測頭內(nèi)**磁鐵穿過被測覆蓋層與金屬基體的磁通路的磁阻巨細(xì)來招認(rèn)覆蓋層的厚度。*要應(yīng)用于磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度丈量。